двустрочный ЖКИ с подсветкой, с разрядностью 41/2
базовая погрешность ±0,3%
тестирование на частотах 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц
последовательный и параллельный режимы измерений
двух- и четырехпроводная схема измерения сопротивлений
измерение тангенса угла потерь (D) конденсаторов и добротности (Q) катушек
сортировка элементов по допуску 1%, 5%, 10%, 20%
режим относительных измерений
удержание показаний
фиксация максимального, минимального и среднего значений
автокалибровка
интерфейс связи с ПК RS-232 (оптический)
Погрешность нормирована при 23 ± 5 °С и влажности менее 70 %.
ИЗМЕРЕНИЕ СОПРОТИВЛЕНИЯ (ПАРАЛЛЕЛЬНАЯ СХЕМА ИЗМЕРЕНИЙ)
Погрешность нормирована, как: ± (% от измеренного значения + n), где n — количество единиц младшего разряда основного циф-рового индикатора прибора.
При тестовой частоте: 100/120 Гц
10 МОм
|
9,999 МОм
|
0,6 % + 5
|
open 1
|
2000 кОм
|
1999,9 кОм
|
0,3 % + 3
|
open
|
200 кОм
|
199,99 кОм
|
0,3 % + 2
|
-
|
20 кОм
|
19,999 кОм
|
0,3 % + 2
|
-
|
2000 Ом
|
1999,9 Ом
|
0,3 % + 2
|
-
|
200 Ом
|
199,99 Ом
|
0,5 % + 3
|
short 2
|
20 Ом
|
19,999 Ом
|
0,6 % + 40
|
short
|
При тестовой частоте: 1/10 кГц
10 МОм
|
9,9999 МОм
|
0,6 % + 5
|
2,5 % + 10
|
open
|
2000 кОм
|
1999,9 кОм
|
0,3 % + 5
|
0,8 % + 10
|
open
|
200 кОм
|
199,99 кОм
|
0,3 % + 2
|
0,6 % + 5
|
-
|
20 кОм
|
19,999 кОм
|
0,3 % + 2
|
0,6 % + 5
|
-
|
2000 Ом
|
1999,9 Ом
|
0,3 % + 2
|
0,6 % + 5
|
-
|
200 Ом
|
199,99 Ом
|
0,5 % + 3
|
1,2 % + 25
|
short
|
20 Ом
|
19,999 Ом
|
0,6 % + 40
|
1,2 % + 200
|
short
|
1 open — после калибровки в режиме «Opn»
2 short — после калибровки в режиме «Srt»
ИЗМЕРЕНИЕ ЕМКОСТИ (ПАРАЛЛЕЛЬНАЯ СХЕМА ИЗМЕРЕНИЙ)
Погрешность измерения емкости нормирована, как ± (% от измеренного значения + n),
Погрешность измерения тангенса угла потерь нормирована, как ± (% от измеренного значения + 100/Cx + n1),
где n1 — количество единиц младшего разряда дополнительного цифрового индикатора прибора, Сх — цифровой отсчет, отображенный на основном цифровом индикаторе прибора. Например, если С=88,88 мкФ, тогда Сх=8888.
При тестовой частоте: 100/120 Гц
10 мФ
|
19,99 мФ**
|
2,5 % + 5 (D<0,1)
|
5 %+100/Cx+5 (D<0,1)
|
short
|
1000 мкФ
|
1999,9 мкФ*
|
0,6 % + 5 (D<0,1)
|
1 %+100/Cx+5 (D<0,1)
|
short
|
200 мкФ
|
199,99 мкФ
|
0,4 % + 3 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
-
|
20 мкФ
|
19,999 мкФ
|
0,4 % + 3 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
-
|
2000 нФ
|
1999,9 нФ
|
0,4 % + 3 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
-
|
200 нФ
|
199,99 нФ
|
0,4 % + 5 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
open
|
20 нФ
|
19,999 нФ
|
0,б % + 5 (D<0,1)
|
1 %+100/Cx+5 (D<0,1)
|
open
|
При тестовой частоте: 1 кГц
1 мФ
|
1,999 мФ**
|
2,5 % + 5 (D<0,1)
|
5 %+100/Cx+5 (D<0,1)
|
short
|
200 мкФ
|
199,99 мкФ
|
0,6 % + 5 (D<0,1)
|
1,2 %+100/Cx+5 (D<0,1)
|
short
|
20 мкФ
|
19,999 мкФ
|
0,4 % + 3 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
-
|
2000 нФ
|
1999,9 мкФ
|
0,4 % + 3 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
-
|
200 нФ
|
199,99 нФ
|
0,4 % + 3 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
-
|
20 нФ
|
19,999 нФ
|
0,4 % + 5 (D<0,5)
|
0,4 %+100/Cx+5 (D<0,5)
|
open
|
2000 пФ
|
1999,9 пФ
|
0,6 % + 5 (D<0,1)
|
1,0 %+100/Cx+5 (D<0,1)
|
open
|
При тестовой частоте: 10 кГц
50 мкФ
|
50,0 мкФ
|
2,0 % + 10 (D<0,1)
|
8 %+100/Cx+10 (D<0,1)
|
short
|
20 мкФ
|
19,999 мкФ
|
2,0 % + 6 (D<0,2)
|
3,0 %+100/Cx+8 (D<0,1)
|
short
|
2000 нФ
|
1999,9 нФ
|
1,0 % + 5 (D<0,5)
|
1,0 %+100/Cx+6 (D<0,5)
|
-
|
200 нФ
|
199,99 нФ
|
1,0 % + 5 (D<0,5)
|
1,0 %+100/Cx+6 (D<0,5)
|
-
|
20 нФ
|
19,999 нФ
|
1,0 % + 5 (D<0,5)
|
1,0 %+100/Cx+6 (D<0,1)
|
-
|
2000 пФ
|
1999,9 пФ
|
1,2 % + 6 (D<0,5)
|
2,0 %+100/Cx+6 (D<0,5)
|
open
|
200 пФ
|
199,99 пФ
|
2,0 % + 8 (D<0,1)
|
4,0 %+100/Cx+8 (D<0,5)
|
open
|
Примечания:
Значение Q обратно пропорционально значению D.
Сх — цифровой отсчет, отображенный на дисплее прибора. Например, если С=88,88 мкФ, тогда Сх=8888.
* Для значения, превышающего максимально возможное показание дисплея (19999), погрешность не определена.
** Для значения, превышающего максимально возможное показание дисплея (1999), погрешность не определена.
ИЗМЕРЕНИЕ ИНДУКТИВНОСТИ (ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНАЯ СХЕМА ИЗМЕРЕНИЙ)
Погрешность измерения индуктивности нормирована, как ± (% от измеренного значения + (Lx/10000) % + n), Lх — цифровой отсчет, отображенный на основном цифровом индикаторе прибора. Например, если L=88,88 мкФ, тогда Lх=8888.
Погрешность измерения добротности нормирована, как ± (% от измеренного значения + 100/Lx + n1)
При тестовой частоте: 100/120 Гц
1000 Гн
|
999,9 Гн
|
0,3 % + (Lx/10000) %+ 5
|
1 % + 100/Lx + 5
|
open
|
200 Гн
|
199,99 Гн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 5
|
0,8 % + 100/Lx + 5
|
-
|
20 Гн
|
19,999 Гн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 3
|
0,8 % + 100/Lx + 5
|
-
|
2000 мГн
|
1999,9 мГн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 3
|
0,8 % + 100/Lx + 5
|
-
|
200 мГн
|
199,99 мГн
|
0,8 % + (Lx/10000) % + 5
|
1,5 % + 100/Lx + 5
|
short
|
20 мГн
|
19,999 мГн
|
1,0 % + (Lx/10000) % + 5
|
5 % + 100/Lx + 5
|
short
|
При тестовой частоте: 1 кГц
100 Гн
|
99,99 Гн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 5
|
1,0 % + 100/Lx + 5
|
open
|
20 Гн
|
19,999 Гн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 5
|
0,8 % + 100/Lx + 5
|
-
|
2000 мГн
|
1999,9 мГн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 3
|
0,8 % + 100/Lx + 5
|
-
|
200 мГн
|
199,99 мГн
|
0,3 % + (Lx/10000) % + 3
|
0,8 % + 100/Lx + 5
|
-
|
20 мГн
|
19,999 мГн
|
0,5 % + (Lx/10000) % + 5
|
2,5 % + 100/Lx + 5
|
short
|
2000 мкГн
|
1999,9 мкГн
|
1,0 % + (Lx/10000) % + 5
|
5,0 % + 100/Lx + 5
|
short
|
При тестовой частоте: 10 кГц
1000 мГн
|
999,9 мГн
|
2,0 % + (Lx/10000) % + 8
|
2,0 % + 100/Lx + 10
|
-
|
200 мГн
|
199,99 мГн
|
1,5 % + (Lx/10000) % + 8
|
2,0 % + 100/Lx + 10
|
-
|
20 мГн
|
19,999 мГн
|
1,5 % + (Lx/10000) %+10
|
3,0 % + 100/Lx + 15
|
-
|
2000 мкГн
|
1999,9 мкГн
|
2,0 % + (Lx/10000) %+10
|
8,0 % + 100/Lx + 20
|
short
|
питание: 220 В, 50 Гц
потребляемая мощность макс 15 ВА
масса 1,6 кг
габаритные размеры 261х211х71 мм
Прибор
Измерительные щупы — 2 шт.
Носитель с руководством по эксплуатации
Кабель питания
Руководство по эксплуатации
Кейс для переноски
Носитель с программным обеспечением (АМ-3004-РО)
Кабель интерфейса RS-232 (АМ-3004-КС)
|